Układ służy do badań transportu substancji przez różnego rodzaju membrany metodą interferometrii laserowej. Umożliwia wizualizację procesu tworzenia się przymembranowych warstw dyfuzyjnych, badanie ich ewolucji i stanu fizykochemicznego oraz pomiar parametrów transportowych membran, zarówno sztucznych jak i biologicznych, w warunkach polaryzacji stężeniowej. Układ jest szczególnie przydatny do analizy procesu uwalniania substancji biologicznie czynnych (antybiotyki, liposomy, LPS) z ośrodków żelowych. Z tego powodu metoda intreferometrii laserowej może mieć obecnie bardzo szerokie zastosowanie w naukach biologicznych, medycznych, farmacji i ochronie środowiska.Podstawowym elementem zestawu jest interferometr dwuwiązkowy (Macha-Zehndera lub Michelsona – w zależności od ustawienia elementów optycznych) firmy Optel. Układ oświetlający interferometru stanowi laser helowo-neonowy wraz z ekspanderem wiązki. W wyniku interferencji dwóch wiązek światła, z których jedna jest wiązką odniesienia a druga wiązką informacyjną, otrzymuje się odpowiednie interferogramy, rejestrowane przez komputerowy system akwizycji i przetwarzania obrazów interferencyjnych sprzężony z interferometrem. Specjalistyczne oprogramowanie dokonuje analizy zarejestrowanych obrazów, określa rozkład czasoprzestrzenny stężenia  (profile stężeniowe) oraz wielkości charakteryzujące warstwy dyfuzyjne, tj. grubość i różnice stężeń  na warstwach. Oprogramowanie to pozwala również wyznaczyć wiele innych wielkości istotnych dla analizy procesów transportu, m. in. ilość transportowanej substancji, strumień substancji, parametry transportowe membrany, dokonuje analizy niestabilności hydrodynamicznych w układzie oraz prędkości ich przemieszczania.

Elipsometr spektroskopowy

Elipsometr Sentech SE 800. Metody badawcze stosowane przy uzyciu elipsometru służą do oznaczania właściwości optycznych, morfologii powierzchni poprzez pomiary zmian stany polaryzacji światła spolaryzowanego odbitego od badanej próbki. Interpretacja danych pomiarowych polega na dopasowaniu wyników doświadczalnych do odpowiedniego modelu optycznego. Zakupiony elipsometr umożliwia zmianę kąta padania wiązki oraz długości fali emitowego światła.