Zastosowanie sztucznej inteligencji w pomiarach nierówności powierzchni

Zastosowanie sztucznej inteligencji w pomiarach nierówności powierzchni

The application of artificial intelligence in surface measurements

Projekt dofinansowany ze środków budżetu państwa w ramach programu „Polska Metrologia II”, ogłoszonego Komunikatem Ministra Edukacji i Nauki z dnia 25 lipca 2023 r

 Projekt realizowany w ramach konsorcjum, w skład którego wchodzą: Politechnika Krakowska, Politechnika Poznańska (lider), Politechnika Świętokrzyska oraz Politechnika Warszawska

  • Nr projektu: PM-II/SP/0104/2024/02
  • Akronim projektu: AI-GUM-PM-II
  • Kwota dofinansowania dla PŚk: 216 018,00zł  zł
  • Całkowita wartość projektu: 999 900,00 zł
  • Data rozpoczęcia projektu: 01.02.2024 r.
  • Okres finansowania: 24 miesiące

Kierownik projektu z ramienia PŚk: dr hab. inż. Krzysztof Stępień prof. PŚk


Projekt ma na celu wsparcie prowadzenia przez zespół składający się z pracowników Politechnik: Krakowskiej, Poznańskiej, Świętokrzyskiej i Warszawskiej, we współpracy z Głównym Urzędem Miar, badań naukowych w obszarze zastosowań sztucznej inteligencji w metrologii powierzchni. Projekt ma służyć podniesieniu poziomu zdolności badawczych instytucji oraz wzmocnieniu kapitału intelektualnego w obszarach zastosowań sztucznej inteligencji w zaawansowanych technikach pomiarowych. W ramach projektu kontynuowane będą prace rozpoczęte w ramach pierwszej edycji projektu Polska Metrologia, na rzecz zastosowań algorytmów sztucznej inteligencji, w tym uczenia maszynowego, prostych sieci neuronowych oraz konwolucyjnych sieci w pomiarach nierówności powierzchni. W ramach nowej inicjatywy, opracowane rozwiązania, pozwolą na wstępne, szybkie opracowanie scenariuszy pomiarowych, w tym doboru rodzaju metody pomiarowej, systemu pomiarowego, rodzaju głowicy pomiarowej, wstępnych parametrów pomiarowych, rodzaju i stopnia filtracji danych. Opracowane algorytmy pozwolą na zaawansowane wsparcie metrologów przy podejmowaniu nietrywialnych decyzji w opracowaniu scenariuszy pomiarowych, których złożoność w dobie Przemysłu 4.0 dynamicznie wzrasta. Należy podkreślić, że proponowane rozwiązania będą w pełni skalowalne, zarówno w zakresie danych wejściowych jak i możliwości rozbudowania danych wyjściowych.